现货！美国NIST SRM 1976c 氧化铝衍射标准品的研究使用

     本标准参考物质（SRM）由烧结氧化铝盘组成，用于校准X射线粉末衍射设备的线位置和强度，作为20°角的函数。固体形式的SRM消除了样品加载过程引入的强度测量的任何变化。SRM 1976c的一个单元由直径约25.6mm、厚度约2.2mm的烧结氧化铝盘组成。

现货！美国NIST SRM 1976c 氧化铝衍射标准品的研究使用

品牌：美国NIST标准品

货号：SRM 1976c

英文名称：Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction

中文名称：氧化铝衍射标准品，X射线粉末衍射标准品

产品规格：1 disc

使用说明：

选择SRM的光盘格式是为了适应许多样品架的几何形状。衍射数据只能从标签对面收集。在制造过程中用于制造光盘的冲压操作导致光盘表面边缘相对于中心凹陷约1（um）。虽然由于氧化铝对X射线的低衰减，这并不被视为一个重大困难，但安装过程中的高度调整应相对于光盘中心（另见“SRM 1976c用于仪器灵敏度测试"）。

材料描述：

用于生产这种SRM的制造工艺是为生产电子元件基板而开发的。用作这些基材前体的氧化铝粉末具有高相纯度（刚玉结构），具有片状颗粒形态。血小板的直径通常为5μm至10μm，厚度为2μm至3μm。圆盘的压实过程产生了轴对称纹理，其基面倾向于与圆盘表面平行。纹理的这种轴对称特性允许在围绕表面法线的任何方向上安装样品。使用少量钙长石玻璃相对压块进行液相烧结。未检测到结晶杂质。液相烧结中涉及的玻璃相有效地防止了颗粒间的接触，并在从烧结温度冷却工件的过程中松弛。这导致微应变及其相关谱线加宽的最小发展；尽管可以检测到一些微应变，如具有tanθ依赖性的高斯展宽。考虑到这一点，并且基本上没有晶粒尺寸加宽，SRM 1976c可用于获得仪器轮廓函数（IPF）的近似值。然而，不建议使用SRM 1976c进行定量微观结构分析。构成该SRM原料的圆盘是在一次专门的生产运行中制造的，以确保微观结构在粒度、形状、微应变和纹理方面的一致性。

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