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SRM 2842 半导体薄膜:AlxGa1-xAs 外延层(Al 摩尔分数 x 接近 0.30)

发布时间: 2024-03-04  点击次数: 76次

SRM 2842 半导体薄膜:AlxGa1-xAs 外延层(Al 摩尔分数 x 接近 0.30)

       本标准参考物质(SRM)旨在用作测量薄膜成分的分析方法的参考标准,如电子探针分析(EMPA)、光致发光(PL)、俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)。SRM 2842的单元由AlxGa1-xAs的外延层组成,该外延层通过使用胶带在安装到不锈钢盘上的砷化镓(GaAs)衬底上生长,具有经认证的Al摩尔分数x。每个单元都密封在含有氮气气氛的聚酯薄膜外壳中。SRM作为比较标准的正确使用取决于分析方法(见“测量条件和程序"和NIST特别出版物260-163[1])。

SRM Number(货号):SRM 2842

DescriptionSemiconductor Thin Film: AlxGa1-xAs Epitaxial Layers (Al mole fraction x near 0.30)

描述:半导体薄膜:AlxGa1-xAs 外延层(Al 摩尔分数 x 接近 0.30)

Unit of Issue(产品规格):disk

2842-01-500.jpg

SRM 2842 半导体薄膜:AlxGa1-xAs 外延层(Al 摩尔分数 x 接近 0.30)

       储存和处理:AlGaAs是一种稳定的化合物,但在储存和处理过程中,薄膜会受到表面污染和氧化。SRM应储存在无尘的氮气环境中或温度低于50°C的真空环境中。为了运输到分析系统或在分析系统中使用而偶然暴露于空气中,直到这种暴露超过数千小时,才发现会产生显著污染。SRM应由金属安装盘用干净的非金属镊子处理,不要接触半导体区域。半导体表面的颗粒污染可以用去离子水或干氮流去除,用户必须确认没有引入额外的污染。用于将半导体安装到不锈钢盘上的胶带可溶于异丙醇、丙酮和其他有机溶剂,使用这些溶剂可能导致粘合剂或胶带颗粒迁移到样品表面。应将试样表面的边缘排除在分析之外。


部分NIST标准物质产品目录(仅列举小部分):

SRM 183邻苯二甲酸氢钾,pH 标准品45 g
SRM 2855聚乙烯中的添加元素3 Levels, 80 g each
SRM 2791软木生物质材料中的无机成分2 x 30 g
RM 8785空气颗粒物 PM2.5标准品3 filters
SRM 1568b米粉标准物质50 g
RM 8173铅冰点参考(327.453 摄氏度)600 g
SRM 2207可控孔玻璃 - BET 比表面积(标称孔径 18 nm)5 g
SRM 2701污染土壤中的六价铬(高水平)75 g
RM 8393人类DNA标准物质(中国血统)1 vial
RM 8704布法罗河沉积物50 g