SRM 3600 X射线散射校准 NIST标准物质

SRM 3600 X射线散射校准 NIST标准物质

       SRM 3600旨在用于小角度 X 射线散射 (SAXS) 仪器的散射强度校准。 SAXS 测量表征了异质材料系统的微观结构和纳米结构：特别是微米级和纳米级特征的尺寸分布，以及通过散射强度校准，它们的体积分数或数量浓度，以及它们的表面积 。 SRM 3600 的一个单元由一个大约尺寸为 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳试样组成。

品牌：NIST标准物质

SRM Number（货号）：SRM 3600

Description：Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

描述：X射线散射校准

Unit of Issue（产品规格）：coupon

SRM 3600 X射线散射校准 NIST标准物质

        储存方法：SRM 3600 应在干燥的环境条件下存放在提供的塑料膜盒内，远离过多的水分或热量（最高 60 °C）。 SRM 3600 玻璃碳材料已被证明可在长时间校准时保持稳定，在这些储存条件下具有无限的保质期。

        使用方法：要使用 SRM 3600 使用带有二维 (2D) 位置敏感检测器 (PSD) 的传统 SAXS 仪器为“未知"样品提供 SAXS 强度校准，必须遵循几个步骤。根据需要使用衰减器保护 2D PSD 免受入射 X 射线束的影响（空白、样品和标准品的衰减相同），测量样品 TS 和标准品 TSTD 相对于入射光束的透射率（空白）在 Q = 0 时测量的强度，其中 Q = (4π/λ)sinθ，λ 是 X 射线波长，θ 是散射角的一半 [1]。还可以从这些传输测量中确定 2D PSD 上的入射光束位置。然后，用一个光束挡板保护 2D PSD 免受入射 X 射线束的影响，在相同条件下对“未知"样品、空白（不存在样品）和电子背景（X 射线）进行 SAXS 测量光束关闭）和 SRM 3600 标准试样。将每个 2D PSD 像素的所有测量强度归一化为入射光束强度，然后减去每个像素的电子背景。对于样品和标准品，分别减去每个 PSD 像素的空白散射，分别由因子 TS 或 TSTD 衰减。然后相对于探测器上的入射光束位置（Q = 0 的位置）对 2D PSD 数据进行循环平均，并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及样品或标准厚度 τSor τSTD。请注意，对于 SRM 3600，应使用 τSTD = 1.055 mm

部分NIST标准物质产品列表（因篇幅有限，仅列举极小部分）: