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SRM 3600 X射线散射校准 NIST标准物质

发布时间: 2022-04-30  点击次数: 262次

SRM 3600 X射线散射校准 NIST标准物质

       SRM 3600旨在用于小角度 X 射线散射 (SAXS) 仪器的散射强度校准。 SAXS 测量表征了异质材料系统的微观结构和纳米结构:特别是微米级和纳米级特征的尺寸分布,以及通过散射强度校准,它们的体积分数或数量浓度,以及它们的表面积 。 SRM 3600 的一个单元由一个大约尺寸为 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳试样组成。

品牌:NIST标准物质

SRM Number(货号):SRM 3600

Description:Absolute Intensity Calibration Standard for Small-Angle X-ray Scattering

描述:X射线散射校准

Unit of Issue(产品规格):coupon


SRM 3600 X射线散射校准 NIST标准物质

        储存方法:SRM 3600 应在干燥的环境条件下存放在提供的塑料膜盒内,远离过多的水分或热量(最高 60 °C)。 SRM 3600 玻璃碳材料已被证明可在长时间校准时保持稳定,在这些储存条件下具有无限的保质期。

        使用方法:要使用 SRM 3600 使用带有二维 (2D) 位置敏感检测器 (PSD) 的传统 SAXS 仪器为“未知"样品提供 SAXS 强度校准,必须遵循几个步骤。根据需要使用衰减器保护 2D PSD 免受入射 X 射线束的影响(空白、样品和标准品的衰减相同),测量样品 TS 和标准品 TSTD 相对于入射光束的透射率(空白)在 Q = 0 时测量的强度,其中 Q = (4π/λ)sinθ,λ 是 X 射线波长,θ 是散射角的一半 [1]。还可以从这些传输测量中确定 2D PSD 上的入射光束位置。然后,用一个光束挡板保护 2D PSD 免受入射 X 射线束的影响,在相同条件下对“未知"样品、空白(不存在样品)和电子背景(X 射线)进行 SAXS 测量光束关闭)和 SRM 3600 标准试样。将每个 2D PSD 像素的所有测量强度归一化为入射光束强度,然后减去每个像素的电子背景。对于样品和标准品,分别减去每个 PSD 像素的空白散射,分别由因子 TS 或 TSTD 衰减。然后相对于探测器上的入射光束位置(Q = 0 的位置)对 2D PSD 数据进行循环平均,并除以各自的透射率 TS 或 TSTD 以及样品或标准厚度 τSor τSTD。请注意,对于 SRM 3600,应使用 τSTD = 1.055 mm

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部分NIST标准物质产品列表(因篇幅有限,仅列举极小部分):

SRM 3074

5 x 1.2 mL

邻苯二甲酸酯

SRM 3222

20   x 10 g

香烟烟草填料标准物质

SRM 2583

8g

室内粉尘中的微量元素(标称质量分数90mg/kg铅)

SRM 2452

10   g

钛合金中的氢(H标称质量分数60mg/kg)

RM 8610

4   x 5 mL

UM-Almaden汞同位素

SRM 1967a

0.51   x 1 m platinum wire

高纯度铂金热电偶

SRM 2976

25   g

贻贝组织中的微量元素和甲基汞

SRM 610

4   wafers 4张

晶圆标准物质(玻璃中的微量元素)

SRM 1729

disk

锡合金

RM 8988

6   g

二氧化钛粉末

SRM 1634c

100   mL

燃油中的微量元素标准物质

RM 8666

5   x 3 g

生姜提取物



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